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GlobalTester - Produktauswahl
Wir bieten Testsuiten für eID Karten und ePässe sowie Inspektionssysteme, eID Terminals und eID Clients an. Die Testsuiten für das Testen von Chipkartenprotokollen basierend auf den neuesten Testspezifikationen des BSI und der ICAO. Die GlobalTester Produkte enthalten je nach Testobjekt APIs für die Simulation von Chipkarten oder Chipkartenlesegeräten bzw. Simulatoren für elektronische Reisepässe (ePässe) oder elektronische ID Karten (eID).
Unser Produktportfolio für Konformitätstests auf einen Blick
GlobalTester Plattform - Open Source
Konformitätsprüfung von Chipkarten
Unterstützte Testspezifikationen
- Chipkarten mit kontaktbehafteter (ISO 7816) und kontaktloser (ISO 14443) Schnittstelle
- BSI TR-03105 3.2: eMRTD mit EACv1
- BSI TR-03105 3.3: eMRTD mit EACv2
- BSI TR-03105 3.4: eSign für nPA
- ICAO TR Part 3: eMRTD mit EACv1 plus PACE
- ISO/IEC18013-4 Personal identification — ISO-compliant driving licence —Part 4:Test methods
Schnittstellen für die Anwendungsprogrammierung (APIs) zur Simulation von Chipkartenlesegeräten
- EACv2 gemäß BSI TR-03110 für die Simulation von eID Lesegeräten (eID Terminals)
- BAC, PACE, EACv1 gemäß ICAO Doc 9303 und BSI TR-03110 zur Simulation von Inspektionssystemen für ePässe
- BAP, PACE gemäß ISO/IEC18013 Personal identification — ISO-compliant driving licence —
Konformitätsprüfung von Lesegeräten
Unterstützte Testspezifikationen
- Lesegeräte für Chipkarten mit kontaktbehafteter (ISO 7816) und kontaktloser (ISO 14443)
- BSI TR-03105 5.1: Inspektionssysteme mit EACv1
- BSI TR-03105 5.2: eID Lesegeräte mit EACv2
- BSI TR-03105 5.3: Terminal Software für ePA-Lesegeräte
- ICAO TR Part 4: Inspektionssysteme mit EACv1 plus PACE
Schnittstellen für die Anwendungsprogrammierung (APIs) zur Simulation von Chipkartenlesegeräten
- BAC, PACE und EACv1 gemäß BSI TR-03110 für die Simulation von ePässen
- EACv2 gemäß BSI TR-03110 und BSI TR-03119 für die Simulation von eID Karten